產品簡介：

  SHJS-A高壓介質損耗測試儀是一種*的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。介損測試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強， 測試時間短等優(yōu)點，是我廠的第三代抗干擾介質損耗測試儀。

技術指標:

1、試驗環(huán)境溫度：10℃～30℃（LCD液晶屏應避免長時間日照）

2、相對濕度：20%～80%

3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz

4、外形尺寸：長*寬*高=470mm*320mm*360mm

5、重量：18kg

6、輸出功率：1.5KVA

7、顯示分辨率：3位、4位（內部全是6位）

8、測試方法：正接法、反接法、外接試驗電壓法

9、測量范圍：內接試驗電壓：

       tgδ：99.9%

        Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

        10KV  Cx＜60000 pF

        5KV   Cx＜80000 pF

        2.5KV  Cx＜0.3uF

    外接試驗電壓：由外接試驗變壓器輸出功率而定

10、基本測量誤差：介質損耗（tgδ）：1%±0.09% 

    電容容量（Cx）：1.5%±1pF

11、分辨率： tgδ：0.01%   Cx ：0.1pF

介質損耗測試儀工作原理:

儀器測量線路包括一路標準回路和一路測試回路，如圖所示。

標準回路由內置高壓穩(wěn)定度標準電容器與標準電阻網(wǎng)絡組成，由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并算出被測試品電容容值（CX）和介質損耗（tgδ）。

數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼接地屏蔽；另外使用了光導數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點地、數(shù)字濾波等抗干擾技術，加之計算機對數(shù)百個電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進行處理，使測量結果穩(wěn)定、精確、可靠。

產品別稱：

   智能介質損耗測試儀、變頻介質損耗測試儀、介損測試儀、抗干擾介損測試儀、全自動介損測試儀、異頻介損測試儀、異頻介質損耗測試儀、抗干擾介質損耗測試儀、全自動介質損耗測試儀、變頻抗干擾介質損耗測試儀。