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影響變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置測(cè)試因素有哪些
更新時(shí)間:2022-04-25   點(diǎn)擊次數(shù):789次

1)高壓引線的影響


當(dāng)進(jìn)行單臺(tái)變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)成套裝置電氣設(shè)備的交流耐壓試驗(yàn)時(shí),由于試驗(yàn)產(chǎn)品的電容量小,高壓導(dǎo)線對(duì)試驗(yàn)的影響很小,室外配電設(shè)備整體進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)時(shí),設(shè)備的安裝高度隨電壓等級(jí)的升高而增大,電壓越高,高壓引線越長(zhǎng),一般地,高電壓引線長(zhǎng),提高了電暈損耗,增加了電路的等效電阻。雜散電容形成的雜散電容與被測(cè)電容并聯(lián),電路的諧振頻率降低,使q值降低。同時(shí),周圍電磁場(chǎng)的干擾增大,使得q值減小,因此,在進(jìn)行高壓級(jí)電氣設(shè)備的交流耐壓試驗(yàn)時(shí),應(yīng)盡可能使用波紋管的高壓引線。


2)天氣的影響


在高濕度條件下,引線的電暈損耗大大增加,周圍電磁場(chǎng)的干擾增大,使q值減小。 當(dāng)電路溫度高時(shí),電路的等效電阻大大增加,從而降低Q值。


3)試驗(yàn)時(shí)間的影響


隨著試驗(yàn)時(shí)間的延長(zhǎng),設(shè)備受熱,等效電阻增大,q值也呈下降趨勢(shì),這種現(xiàn)象在大熱天非常顯著,設(shè)備通常需要30分鐘的休息才能繼續(xù)使用。


4)電抗器的影響


反應(yīng)器的一般要求是無(wú)損耗功率消耗反應(yīng)器,如果工藝不好,損失往往很大,此外,當(dāng)電抗器放置在鐵板等金屬件上時(shí),會(huì)形成渦流損耗,等效電阻增大。


5)頻率未選擇諧振點(diǎn)對(duì)高電壓測(cè)試中Q值的影響


在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn),當(dāng)電壓上升到接近串聯(lián)諧振試驗(yàn)電壓時(shí),電壓上升過(guò)快,并伴有較大的電壓波動(dòng),甚至?xí)痣妷罕Wo(hù)動(dòng)作,必須重新進(jìn)行試驗(yàn),不利于設(shè)備的安全,然而,如果電壓保護(hù)值過(guò)大,則不能保護(hù)被測(cè)設(shè)備免受過(guò)電壓影響,因此,一般將諧振頻率降低到試驗(yàn)電壓的2%,然后在不超過(guò)試驗(yàn)電壓的40%的條件下,再對(duì)頻率進(jìn)行調(diào)整,并略小一些,以避免出現(xiàn)上述現(xiàn)象。


綜上所述,變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置除了依靠電抗器的良好性能外,還需要采取各種良好的電壓共享措施和合理的導(dǎo)體選擇、試驗(yàn)場(chǎng)的合理布置、合理的時(shí)間安排等,盡可能地增加Q值,并采取散熱等措施,降低加熱對(duì)Q值的影響。


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