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解釋局部放電檢測儀名詞術(shù)語
更新時間:2020-02-18   點擊次數(shù):688次

  局部放電檢測儀名詞術(shù)語有以下幾類,上海蘇霍電氣為您整理了以下幾條,僅供參考:

(1)局部放電

局部放電是指在絕緣的局部位置放電,它并不構(gòu)成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式:內(nèi)部放電(在介質(zhì)內(nèi)部)、沿面放電(在介質(zhì)表面)、電暈放電(在電極)。

(2)電荷量q

局部放電檢測儀在試品兩端瞬時注入一定電荷量,使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,此注入量即為局部放電的視在電荷量。

(3)視在放電量校準器

視在放電量校準器是一標準電量發(fā)生器,試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端,模擬該試品在此電量下放電時局部放電測試儀的響應(yīng),此時調(diào)整刻度系數(shù),確定局部放電檢測儀的量程,以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時以標準電量發(fā)生器比較后間接測出,而非直接測出,故此放電量稱為"視在放電量"。

校正電量發(fā)生器是測量局部放電時*的儀器,它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測試結(jié)果的準確性。

視在放電量校準器由校準脈沖電壓發(fā)生器和校準電容串聯(lián)組成,其參數(shù)主要包括:脈沖波形上升時間、衰減時間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準電容值等。

校準脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間,衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。

(4)檢測阻抗

檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置,在使用中,應(yīng)根據(jù)不同的測試目的,被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗,以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

(5)時間窗(門單元)

時間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進入峰值檢波電路而設(shè)計的一種電路裝置。因在實際試驗時,尤其是在現(xiàn)場做試驗時,不可避免地會引入一些干擾,所以,時間窗的使用更顯得重要。

時間窗的工作原理是把橢圓掃描時基分成導(dǎo)通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分,通過改變時間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通(加亮區(qū)域),干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域),此時儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值,而干擾則不論大小,皆不會影響放電脈沖數(shù)值。若此時兩個時間窗同時關(guān)閉,則儀表讀數(shù)為整個橢圓上脈沖之峰值。

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